Pracownia Elektrochemii dysponuje spektrofotometrem FT 8400 Shimadzu wyposażonym dodatkowo w chłodzony ciekłym azotem detektor typu MCT oraz szereg akcesoriów umożliwiających badanie substancji stałych, ciekłych oraz monowarstw i cienkich filmów osadzonych na odbijających światło powierzchniach.
Widma monowarstw i cienkich filmów na powierzchni rejestrujemy metodą zewnętrznego odbicia (ang. nazwy: Specular Reflectance lub Infrared Reflection Absorption Spectroscopy - IRRAS), czyli mierzymy intensywność światła odbitego od powierzchni próbki. Dzięki możliwości zmiany kąta padania wiązki możemy badać warstwy o różnej grubości. Dla monowarstw stosujemy duże kąty padania, tj. 80° od normalnej do powierzchni. Szczegółowy opis zależności pomiędzy kątem padania wiązki, a intensywnością widma odbiciowego podał R. G. Greenler w J. Phys. Chem. 44 (1966) 310-314. Widma odbiciowe IR dostarczają informacji na temat sposobu związania cząsteczki z powierzchnią, orientacji i konformacji cząsteczki oraz pozwalają określić ewentualne oddziaływania pomiędzy cząsteczkami tworzącymi warstwę. Przykłady wykorzystania widm odbiciowych zmierzonych w naszej pracowni można znaleźć w publikacjach: S. Sęk, B. Pałys, R. Bilewicz J. Phys.Chem. 106 (2002) 5907; A. Szkurłat, B. Pałys, J. Mieczkowski, M. Skompska, Electrochim. Acta 48 (2003) 3665, R. Słojkowska, B. Pałys, M. Jurkiewicz – Herbich, Electrochim. Acta 49 (2004) 4109. |
