SEM umożliwia badanie powierzchni próbek przewodzących prąd elektryczny. Zdjęcia wykonane w mikroskopie skaningowym dają informację o topografii oraz morfologii badanej próbki. Można z nich odczytać kształt, wielkość i rozmieszczenie cząstek które tworzą daną powierzchnię.
Obiekty widoczne w SEM mogą mieć rozmiary rzędu kilku nanometrów. Mikroskop jest dodatkowo wyposażony w sondę XPS dzięki czemu możemy poznać skład chemiczny próbki. W mikroskopie skaningowym obraz badanego obiektu powstaje w wyniku oddziaływania wiązki elektronów z obiektem badania. Produkty tych oddziaływań (min. elektrony odbite i wtórne) są wykrywane i zliczane przez różne detektory. Informacja jaką uzyskamy zależy więc od zastosowanego detektora. Mikroskop będący na wyposażeniu Wydziału Chemii jest wyposażony w detektor elektronów wtórnych.
|
